四步相移法

资 源 简 介

四步相移法

详 情 说 明

结构光四步相移法是一种广泛应用于三维形貌测量的高精度相位提取技术。该方法的核心思想是通过投射四幅相位差为π/2的正弦光栅图案到被测物体表面，利用相移算法计算绝对相位分布，最终实现物体三维形貌的精确重建。

技术原理上，系统会依次投射0、π/2、π、3π/2相位的正弦条纹光，相机同步采集受物体表面调制的变形条纹图像。通过四幅图像的亮度值建立方程组，可求解出每个像素点的包裹相位值，再结合相位展开算法消除2π模糊性，最终得到连续的绝对相位场。

相比三步相移法，四步相移具有更好的抗噪能力，能有效抑制环境光和表面反射率的影响。该方法在工业检测、逆向工程、生物医学等领域展现出色性能，尤其适合复杂曲面的高精度测量。需要注意的是，测量过程中需保证投影仪与相机的严格同步，并校准系统参数以消除非线性误差。