垂直和斜向探测电离层参数反演遗传算法研究_徐彤

资 源 简 介

垂直和斜向探测电离层参数反演遗传算法研究_徐彤

详 情 说 明

电离层参数反演是空间天气和无线电通信领域的重要研究方向。徐彤的研究聚焦于利用遗传算法解决垂直和斜向探测方式的电离层参数反演问题。

在垂直探测方面，传统方法通常需要假设电离层为水平分层结构。研究通过改进遗传算法中的选择、交叉和变异算子，实现了对电子密度剖面等关键参数的高精度反演。算法的自适应调整机制能有效处理不同高度层参数的耦合关系。

斜向探测面临更复杂的路径积分效应问题。该研究创新性地将斜向探测数据转换为等效垂直探测数据，结合改进的遗传算法进行反演。通过引入路径电离图特征点约束，显著提升了反演结果的可靠性。

研究对比了标准遗传算法和改进算法在两种探测方式下的表现。改进算法在收敛速度和参数估计精度方面均有明显提升，特别是在处理实际观测数据中的噪声干扰时表现出更强的鲁棒性。

这项工作为电离层参数反演提供了新的算法思路，对提高短波通信质量、空间目标识别等应用具有重要意义。