等倾干涉

资 源 简 介

等倾干涉

详 情 说 明

等倾干涉是光学中一种特殊的干涉现象，当平行光束以相同倾角入射到薄膜表面时，由于光程差相同，会形成明暗相间的同心圆环干涉条纹。这种干涉现象在光学测量和薄膜厚度检测中具有重要应用价值。

等倾干涉的产生需要满足几个基本条件：首先需要一束单色平行光源，其次需要有厚度均匀的薄膜结构。当光束在薄膜上下表面发生反射后，两束反射光会产生干涉。干涉强度取决于光程差，当光程差等于波长的整数倍时产生相长干涉，出现亮条纹；当光程差等于半波长的奇数倍时产生相消干涉，出现暗条纹。

在实际应用中，我们可以通过改变入射角度或薄膜厚度来观察干涉条纹的变化。等倾干涉条纹的分布规律可以用于测量薄膜的厚度和折射率，在光学仪器校准和表面质量检测中有广泛应用。理解等倾干涉的原理对于从事光学设计和精密测量的工程师至关重要。