相移算法
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四步相移干涉包裹相位提取算法实现
本项目专注于实现光学测量领域经典的四步相移算法，旨在从干涉条纹序列中高精度地提取包裹相位信息。程序核心逻辑是接收四幅具有连续pi/2（90度）相移量的干涉条纹图像（I1, I2, I3, I4），利用MATLAB强大的矩阵运算能力，对每一像素点应用四步相移公式 phi = arctan((I4-I2)/(I1-I3)) 进行计算。该算法特别选用了双参数反正切函数（atan2），以确保计算结果能够正确覆盖[-pi, pi]的完整周期范围，并有效消除背景光强不均匀和条纹对比度变化对测量结果的影响。计算生成的包裹相位图呈现特征性的锯齿状条纹分布，包含了物体形变或形貌的高度信息。该工具是光学干涉计量、电子散斑干涉（ESPI）、结构光三维重建及全息术等精密测量任务中的基础模块，其输出结果可直接用于后续的时间解包裹或空间解包裹算法，从而恢复出连续的真实相位分布。
