本项目旨在解决红外焦平面阵列(IRFPA)在制造过程中因工艺差异导致的各像素点响应不一致问题,即非均匀性噪声。本系统采用经典的物理定标两点法,通过搜集红外探测器在低温和高温两个已知标定黑体辐射源下的原始响应数据,建立像素级的线性响应模型。功能涵盖了定标图像的多帧累加平均,以有效滤除读出电路产生的随机噪声并获取稳定的基准均值;随后通过计算每个像素点相对于全局均值的斜率和截距,生成精确的增益校正矩阵和偏置校正矩阵。在校正阶段,系统将上述矩阵应用于待处理的原始红外图像,通过实时的矩阵线性变换消除图像中的固定图形