模拟产生中心应力集中光学条纹图

资 源 简 介

模拟产生中心应力集中光学条纹图

详 情 说 明

在光学测量领域，模拟中心应力集中的条纹图是分析材料应力分布的重要手段。通过Matlab可以高效生成这类仿真图像，并进一步提取关键特征。

基本原理 应力集中会导致光学路径差变化，表现为干涉条纹的疏密分布。中心应力区域的条纹通常呈现高密度环形图案，其数学本质可建模为： 相位场生成：基于应力分布模型（如二次函数）构造包裹相位 条纹图合成：将相位信息转化为灰度干涉条纹 特征提取：通过相位解包裹算法获得连续相位，或通过极值检测提取中心线

实现要点 程序通常会包含这些核心处理模块： 相位调制：用meshgrid生成二维坐标，通过径向距离函数模拟应力梯度 条纹渲染：将相位值映射为余弦强度分布，添加噪声模拟真实环境 解包裹处理：采用质量引导路径跟踪法解决2π跳变问题 中心线提取：对条纹极值点进行亚像素级定位和曲线拟合

应用扩展 该方法稍作修改即可适用于： 不同应力分布模型（单轴/双轴应力） 动态条纹序列生成 结合实际实验数据的验证分析

通过调整相位函数的参数，可以控制条纹的密度和形态，这对光学测量算法的验证具有重要价值。最终输出的锯齿包裹图和条纹中心线图，分别对应相位分布的离散表达和应力场的特征骨架。