本站所有资源均为高质量资源,各种姿势下载。
在芯片验证领域,搭建AHB总线与Flash控制器交互的仿真测试平台(Testbench)是验证存储子系统功能的关键环节。这种测试平台需要模拟AMBA AHB总线的协议时序,同时驱动Flash控制器的读写操作,以验证数据传输的正确性和时序合规性。
典型的测试平台架构包含AHB主设备模拟器、协议检查器、Flash行为模型以及覆盖率收集模块。AHB主设备负责生成符合总线规范的读写请求,包括地址、控制信号和数据的驱动。Flash控制器作为从设备,需响应这些请求并转换为具体的Flash操作时序,如页编程、扇区擦除等。
测试场景需要覆盖正常读写、错误注入(如地址越界)、背压测试(AHB等待信号处理)等边界条件。通过波形图和日志分析,可以观察总线握手信号(HREADY/HRESP)与Flash控制信号(如CE#、WE#)的交互时序,确保两者在时钟域切换和异步处理上的正确性。
对于验证工程师而言,此类测试平台的价值在于提前发现硬件设计中的协议冲突或时序违规,避免流片后出现Flash访问失败等致命错误。通过参数化测试序列的构建,还能实现回归测试自动化,显著提升验证效率。