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数字图像相关(DIC)是一种非接触式光学测量技术,主要用于获取物体表面的全场位移和应变分布。这种方法的核心在于分析物体表面随机分布的散斑图案,这些图案可以是人工喷涂的随机油漆点,也可以是材料本身在高倍放大下呈现的微观纹理。
DIC技术的一大优势是无需预先设定参考点或标记物,仅通过对比变形前后图像中散斑的灰度分布变化,即可精确计算出位移和应变场。其应用范围极为广泛,从土木工程中的大型结构变形监测,到微电子器件纳米级位移分析均可覆盖。
由于不依赖特定长度标尺,DIC的测量尺度完全取决于成像系统的放大倍数:通过调整镜头倍率与散斑尺寸的匹配关系,同一套系统既可测量桥梁的米级形变,也能分析芯片的微米级位移。这种灵活性使其成为实验力学领域的重要工具,尤其适合高温、高速等传统接触式传感器难以工作的极端环境。