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新的文本如下:通过使用缺陷识别m文件,我们可以对缺陷图像进行中值滤波和小波去噪处理,以提高图像质量。此外,我们还可以应用数学形态学方法来提取二进制图像的轮廓,从而更好地分析裂纹等缺陷的形状和尺寸。通过计算缺陷的面积和周长,我们可以更准确地评估其严重程度和影响范围。这些方法可以帮助我们更有效地检测和分析图像中的缺陷,从而提高产品质量和生产效率。